| 一、仪器概述及适用领域 |
| 本仪器为光学仪器是检测太阳能真空管，太阳能集热器及高新材料、涂料、颜料、建筑等行业精确测量而研制的专用仪器，它可用于各种太阳能真空管，太阳能集热器涂层、漆膜、油脂、簿膜、塑料制品、有机制品反射率和吸收率的测量。同时亦可作为可见光、紫外、红外等光谱的测定（即相同光源不同材料的测定或者相同材料不同光源的测定）。 |
| 二、工作原理 |
| 所谓反射是指选择反射，非透明体受到光照射后，由于其表面分子结构差异而形成选择性吸收，从而将可见光谱中某一部分波长的辐射能吸收了，而将剩余的色光反射出来，这种物体称为非透过体或反射体。本仪器就是利用此原理，采用光电转换感应原理，它与多功能数字感应器配接使用，均能精确的测量出不同材料的反射率和不同光源的光谱范围。仪器的感应元件采用了绕线电镀式多接点热点堆，其表面涂有高吸收率的涂层，感应元件的热接点在感应面上，而冷接点位于一起的机体内，以便直接取环境温度。为了防止热接点单方向通过玻璃罩与环境进行热交换影响测量精度，采用了两层玻璃罩。当有光波通过反射片反射过来的时候，接受仪的冷热接点就会产生温差即产生电势值，也就是将光信号转换为电信号输出，在线性误差范围内，输出的信号与光波通过反射片反射出的光照度成正比。光的镜面反射与粗糙面反射示意图如下： |
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| 三、仪器组成 |
| 光源发射器 | 一台 | | 光辐射传感器 | 一套 | | 光辐射数据记录仪 | 一台 | | 材料光学性能分析软件 | 一套 |
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| 四、主要技术参数 |
1.测量范围：0-100%；
2.重复精度：0.3%；
3.环境温度：23℃±5℃；
4.相对湿度：<85%；
5.电源：220V±10%；
6.ZLK.RM-FX2材料光学性能测试仪，采用高性能微处理器为主控CPU，大容量数据存储器，可连续存储正点数据100天以上，数据采样率高于0.5秒/通道，工业控制标准设计，便携式防震结构，大屏幕汉字液晶显示屏，轻触薄膜按键，操作简单。适合在恶劣工业环境使用。具有停电保护功能，当交流电停电后，由充电电池供电，可维持48小时以上。
6.1外观尺寸：金属外壳350×150×300（mm）；
6.2数据存储容量：3000条数据；
6.3数据存储内容：时间，总辐射瞬时功率，反射辐射的瞬时功率，反射率，吸收率，透光率；
6.4显示内容：时间，总辐射瞬时功率，反射辐射的瞬时功率，反射率，吸收率，透光率；
6.5标准RS232接口与管理微机有线连接，实时传送采集数据，并可下载数据存入微机；
7.材料光学性能分析软件在windows98以上环境即可运行，实时显示各路数据，每隔10秒更新一次，检测数据自动存储（存储时间可以设定），实时显示测试结果，自动计算并绘制反射率，吸收率，透光率曲线图，显示材料对紫外光，可见光，红外光的反射吸收比例与打印机相连自动打印，数据存储量达十年以上，数据存储格式为EXCEL标准格式可供其它软件调用。
8.光辐射传感器采用专业光辐射原理设计，一套分三种光接收器(光谱范围：280---3000nm，400---3000nm，700---3000nm)，可测试材料对紫外（280—400nm），可见(400—700nm)，红外光(700—3000nm)的反射率，吸收率，透光率；
8.1 测量范围：0----2000W；
8.2 测量精度：小于5%；
8.3 分辨率：1W；
8.4 光谱范围：A：280---3000nm， B：400---3000nm， C：700---3000nm。 |
| 五、ZLK.RM-FX2材料光学性能测试仪配置 |
序号 | 名 称 | 型号 | 数量 | 单位 | 1 | 光辐射数据记录仪 | ZLK.RM-FX2 | 1 | 台 | 2 | 光辐射传感器 | ZLK.BQ-4-3A | 1 | 台 | 3 | 光源发射器 | ZLK.RM-FX2B | 1 | 台 | 4 | 材料光学性能分析软件 | ZLK.RM-FX2 | 1 | 套 | 5 | 产品使用手册及合格证 | | 1 | 套 |
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